馮建華(北京大學微電子系SOC測試中心主任)
馮建華，陜西渭南人，教授，博士，北京大學微電子系SOC測試中心主任。計算機學會和電子學會高級會員，容錯專業委員會常務委員。
1982畢業於瑞泉中學，1986畢業於哈爾濱工業大學，獲半導體物理與器件專業學士學位，1995獲西安電子科技大學微電子專業碩士學位，2000年獲Xi安微電子技術研究所博士學位，2000年至2002年在清華大學從事博士後工作。
研究方向為數字、模擬和混合信號電路測試及可測性設計。
主持“芯片硬件特洛伊馬安全檢測方法研究”、“嵌入式模擬和混合信號內核的bist和dft研究”等國家自然科學基金面上項目3項，國家預研項目4項，講授VLSI測試與可測性設計課程。他發表了30多篇論文和4項專利。目前承擔的主要科研項目:1。基於嵌入式內核的SOC系統芯片測試方法研究:2.嵌入式模擬和混合信號內核的BIST和DFT研究:3.現場可編程門陣列器件的可測性技術:4.混合電路的BIST和噪聲測試:5.IDDQ測試矢量生成技術為5。CMOS電路。
合作出版《VLSI-測試數字、存儲器和混合信號系統》、《現代集成電路測試技術》等3本書，其中《現代集成電路測試技術》獲省部級優秀圖書壹等獎。2009年，馮建華等人翻譯了伯恩斯和羅伯茨合著的《混合信號集成電路的測試與測量》壹書，作為“國外電子與通信教材”系列之壹，由電子工業出版社出版。
馮建華“基於ATE的EPGA自動測試方法研究”獲2011“北京大學第六屆實驗技術成果獎”三等獎。